意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)
簡要描述:意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)Politrack是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統(tǒng)。提供了多種軟件包,適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。
- 產(chǎn)品型號:Politrack
- 廠商性質:代理商
- 更新時間:2024-06-03
- 訪 問 量:1530
意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)Politrack簡介:
•Politrack® 是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統(tǒng)。
•Politrack可以讀取 CR-39 和 LR115 探測器。主要應用于各類研究,氡和中子的劑量測定。
•Politrack提供了多種軟件包,適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。
•掃描面積可達 205x205 mm2,用戶可定義探測器尺寸和讀取面積。通過 OCR 讀取探測器ID。
•在掃描開始時執(zhí)行的自動對焦例程可確保在整個讀取過程中使圖像聚焦探測器表面。
•形態(tài)分析會將對來自不同粒子或具有不同能量的徑跡蝕刻進行分類,并去除本底噪聲。
•形態(tài)參數(shù)中具有濾鏡功能,用戶可以看到應用濾鏡后會發(fā)生或出現(xiàn)什么狀態(tài),并且以此進行修改參數(shù)范圍或強度。軟件可對與徑跡密度成正比的徑跡重疊進行校正。
•輸出數(shù)據(jù)文件包含所有探測器相關數(shù)據(jù),用戶可以自定義輸出模板和格式(與Excel*兼容)。
意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)Politrack特點:
•任何尺寸的CR-39和LR115檢測器均可讀數(shù)
•精密的徑跡蝕刻形態(tài)分析
•CR-39檢測器老化校正
•LR115殘余厚度校正
•重疊校正
•清晰明確的算法,不存在黑匣子
•操作員可設置和修改所有參數(shù)
Politrack固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)應用領域:
•各類研究工作
•劑量測定服務
•氡測量
•快中子
•熱中子
•LET光譜
Politrack固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)操作方法:
用戶可以定義探測器的類型和尺寸,讀取區(qū)域以及所有掃描參數(shù)。形態(tài)分析可以區(qū)分來自不同粒子和具有不同能量的徑跡,去除本底干擾。
所有算法清晰明確,用戶可以通過功能強大的圖形工具輕松修改和/或應用形態(tài)分析濾鏡,并實時可視化結果。若需更改參數(shù),可直接使用二次計算工具,而無需重新讀取探測器。輸出文件包含所有探測器相關掃描數(shù)據(jù),用戶可自定義輸出模板和格式。
蜂窩抗振面包板 | 550x750x40毫米 |
三軸微步電機控制板 | |
顯微鏡: | 4x +針孔(rad); 20x +冷凝器(中子) |
掃描架 | 200x200 mm |
Z軸精密線性平臺 | 重復精度+/- 0.5微米 |
相機 | 1/3英寸CCD USB3 1280x960 b / n,30幀/秒 |
XY電動掃描臺 | 205x205mm,90mm / sec,分辨率<1微米 |
LED系統(tǒng) | 用于樣品背光 |
軟件包: | CR-39 ,、 LR115 ,、 CR-39中子/ LET光譜儀 |